XAU是一款專業性能型鍍層測厚儀/膜厚測試儀/光譜測厚儀,全面升級下照式探測器,多模態人機交互,搭載先進的EFP算法軟件同時升級成新一代微納米芯片及元器件,在檢測多層合金、上下元素重復鍍層及滲層時更加精準、穩定。
高性能探測器:搭配高性能探測器,在檢測多層合金、上下元素重復鍍層及滲層時更加精準、穩定
變焦裝置及位置補償算法:可對各種異性凹槽進行檢測,凹槽深度測量范圍可達0-30mm
自主研發EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂鍍層,多層多元素,甚至有同種元素在不同層也可精確測量
高集成光路系統:搭配微聚焦一體的高集成垂直光路交換裝置
先進的解譜技術:減少能量相近元素的干擾,降低檢出限
XAU廣泛應用于電鍍行業、通訊行業、汽車行業、五金建材、航空航天、水暖衛浴、精密電子、珠寶首飾和古董等多種領域