X射線熒光分析儀的應用及特點

        X射線熒光分析儀的不斷完善和發展所帶動的X 射線熒光分析技術已被廣泛用于冶金、地質、礦物、石油、化工、生物、醫療、刑偵、考古等諸多部門和領域。X 射線熒光光譜分析不僅成為對其物質的化學元素、物相、化學立體結構、物證材料進行試測，對產品和材料質量進行無損檢測，對人體進行醫檢和微電路的光刻檢驗等的重要分析手段，也是材料科學、生命科學、環境科學等普遍采用的一種快速、準確而又經濟的多元素分析方法。同時，X 射線熒光光譜儀也是野外現場分析和過程控制分析等方面儀器之一。
       X射線熒光分析儀產品特點
            1、在測定微量成分時，由于X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景，致使目標峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響，此熒光分析儀                   配置了4種可自動切換的濾光片，有效地降低了背景和散射X射線的干擾，調整出最具感度的輻射，進一步提高了S/N的比值，從而可以進行更高靈敏度的微量分析。
            2、X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景，軟件可自動過濾背景對分析結果的干擾，從而能確保對任何塑料樣品的進行快速準確的分析。
            3、當某些元素的電子由高等級向低等級越遷時釋放的能量相近，會使此時譜圖的波峰重疊在一起，由此產生了重疊峰SCIENSCOPE自行開發的軟件自動剝離重疊峰，確保了元素分析的正確性。
            4、逃逸峰:由于采用的是Si針半導體探測器，因此當X射線熒光在通過探測器的時候，如果某種元素的含量較高或者能量較高，其被Si吸收的概率也就越大。此時，光譜圖中在該元素的能量值減去Si能量值                   的地方回產生一個峰，此峰即為逃逸峰。
            5、在電壓不穩的情況下，可對掃描譜圖的漂移進行自動追蹤補償。