x-ray膜厚測試儀2000年前后,國內電子、通信行業的迅猛發展,帶來電鍍行業的廣泛需求。應國際貿易和質量體系認證的需求,許多企業工廠紛紛購置了相關的鍍層厚度檢測儀器和設備,同時也帶來鍍層膜厚量值傳遞和溯源問題。當然,有些外資企業,通過儀器自帶的標準器直接溯源到國外,而大部分企業部門,則處于自行封閉測量和不做量值溯源的狀況,國家沒有一個明確的量值傳遞體系,鍍層膜厚的量值處于一種混亂的狀態。
因此2005-2007年間經過購置相關測量設備和研制標準器及測量方法的研究,中國計量科學研究院首先建立了基于x射線熒光分析方法的鍍層膜厚標準裝置,用于鍍層膜厚量值得測量和校準,為鍍層膜厚量值的溯源提供了一種有效的技術方法。
x-ray膜厚測試儀優勢有:
1.長期穩定性、快速的分析帶來生產成本優化,測定元素厚度,優化的性能可滿足廣泛的元素測量.
2.堅固耐用的設計:可靠近生產線或在實驗室操作,生產人員易于使用.
3.簡單的校準調試:在沒有標準片時,經驗系數法或基本參數法可以提供簡單可靠的定量結果,方法建立只需幾分鐘,我們提供認證標準片以確保,預置了多種校準參數.