選擇EDXRF光譜儀的三要素！

ED-XRF(Energy-Dispersive X-ray Fluorescence)中文全稱能量色散X熒光光譜儀，根據用途和設計針對性有很多俗稱：膜厚儀、測厚儀、測金儀、合金測試儀、古董測試儀，環保測試儀等等

ED-XRF對制造行業的材料元素成分和涂鍍膜層分析、環保檢測已經有了很成熟的應用， 隨著計算機技術的發展和新材料、新工藝的涌現，XRF技術也在進一步演進，并應用于更多的領域

然而現在市場上面光譜儀品牌眾多，那么接下來，我就會幫助大家分析一下，如何挑選好的光譜儀?

一、首先保證是否可以滿足需求的功能達到元素識別、產品評估、精確定位、生產管控目的

二、其次考慮其應用水平，即選擇光譜儀三要素，同時這也是決定光譜好壞的重要依據

1.最小測量面積

光譜儀測量結果是否可靠，第一步是要求測試激發用的X熒光要全部照射在被測物目標點上， 所以必須控制好光斑大小，那么最小測量面積就成了關鍵性能指標（光斑越小越難聚集）

注意：準直器不代表最終測量光斑，類似手電 筒的杯口不代表照射光的大小，光斑會擴散。

一六儀器自主研發生產的光譜分析儀，搭配高集成光路交互系統，集聚焦，微焦，對焦，變焦于一體，最小測量直徑0.05mm，檢測面積0.002mm2

2.可測樣品形狀的復雜程度

由于X熒光發射到不同距離的強度和光斑大小都 在變化，加上接收特征X熒光的角度和距離也在 變化，測量結果則會出現很大偏差

一臺好的光譜儀除了能測試微小樣品的同時， 應該具備可以測試凹面底部、杯子底部、L形 的內面等多種形狀和位置

a.非垂直光路，能應對簡單的鍍層，統一 距離的被測物

b.垂直光路，通過Z軸移動實現對焦功能，可應 對少許高低落差約20mm的異形樣品

c.具備變焦+對焦功能，應對曲面、深凹槽可達 0-90mm的異形件，甚至面對高低落差不一致， 峰形起伏的超復雜樣品也可高效檢測

一六儀器自主研發生產的光譜分析儀，可檢測深凹槽范圍0-90mm的曲面異形件

3.測量樣品的組分結構

好的X熒光光譜儀，除了檢測應對不同外形的樣品，還要盡量測試更多的元素成分和鍍層厚度

一六儀器自主研發生產的光譜分析儀，全系搭載核心EFP算法，可將涂鍍層檢測范圍提升至Li（3）-U（92）

一六儀器是一家專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售和服務的高新技術企業。 

公司專業的研發團隊，經過數十年的演算測試及數學建模開創了 全新一代EFP核心算法，開發了高均值聚集光源的微光聚集技術，在微小面積、異形高低面探測、多層多元素與多層同元素的檢測 上，都具備優勢 

公司產品廣泛的應用于環保、涂鍍層、糧食、地質地礦、電子元 器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子、航空航天等制造領域。 

歡迎致電400-850-1617，免費預約測樣！