X射線熒光鍍層膜厚儀會對被檢測物造成傷害嗎？

　　鍍層膜厚儀在企業生產中中應用廣泛，市面上也有很多不同的鍍層膜厚儀，鍍層膜厚的檢測方法也非常多。但是有些鍍層膜厚的檢測方法對于檢測物會造成一定的傷害。那市面上幾種常見的膜厚測試方法是如何進行檢測的呢?今天X射線熒光鍍層膜厚儀生產廠家就來跟大家介紹一下吧。

　　一、破壞性方法：

　　1. 金相顯微鏡法 (特點：破壞性測試、耗時長、價格貴)

　　利用顯微鏡光學原理，對物體進行放大，可以觀察到物體表面或斷面的金相顯微結構

　　2. 庫倫法 (特點：破壞性測試，耗時長，消耗電解液，測量范圍小。測量直徑2mm以上)

　　根據庫侖定律,以溶解鍍層金屬消耗的電量、溶解鍍層面積、鍍層金屬的電化當量、密度以及陽極溶解的電流效率計算鍍層的局部厚度。

　　二、非破壞性方法：

　　3. 磁性法 (特點：便攜式，精度差，應用范圍窄。測量直徑2mm以上)

　　利用磁通量隨涂膜的非磁性層在磁體和底材之間厚度的變化而變化的原理來測定磁性金屬(鐵基)底材上的涂膜厚度。

　　4. 電渦流法 (特點：便攜式，精度差，應用范圍窄。測量直徑2mm以上)

　　利用感應渦流隨儀器探頭線圈與基礎金屬間涂膜厚度的大小變化來測定非磁性金屬(非鐵基)底材上非導電涂層膜厚。

　　5. X射線法(特點：精確，測量鍍層范圍廣，能解決細微面積及超薄鍍層的測量。不但能快捷廣泛測量膜厚，還能分析成分)

　　X射線射到電鍍層表面，產生X射線熒光，根據熒光譜線元素能量位置及其強度確定鍍層組成及厚度。

　　看完今天的文章，你是不是對X熒光鍍層膜厚儀有了更深入的了解呢?以上就是X射線熒光鍍層膜厚儀生產廠家一六儀器給大家整理的全部內容，如果大家想要了解更多關于X射線熒光鍍層膜厚儀的內容，歡迎咨詢我們。一六儀器專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售和服務。公司產品廣泛的應用于環保、涂鍍層、糧食、地質地礦、電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子、航空航天等制造領域。