XRF光譜分析儀的構造及簡介

　　平時大家只知道XRF光譜分析儀是分析元素的，但對儀器本身原理、作用、構造不是很了解。接下來和一六儀器一起了解一下XRF光譜分析儀的構造及簡介。

　　3. 0 XRF光譜分析儀的構造：

　　X熒光具有一定的波長，同時也具有一定的能量

　　波長色散型(WDXRF)：按照波長的差異進行分離和檢測

　　能量色散型(EDXRF)：按照能量的差異進行分離和檢測

　　3.1 儀器的主要部件：

　　激發源，分光系統，濾波器/二次靶，檢測器系統，數據處理系統

　　波長色散型：晶體分光器通過晶體衍射現象把不同波長的X射線分開

　　能量色散型：依靠樣品X射線熒光能量來檢測

　　3.1.0 XRF光譜儀的構造—激發源

　　X射線管(激發源)的結構

　　X射線來源：

　　連續譜

　　靶元素特征輻射

　　3.1.1 X射線管(光源)的靶材

　　1.單一的靶材：

　　分析重元素：鎢靶 分析輕元素：鉻靶

　　靶材的原子序數越大，X光管壓越高，連續譜強度越大。

　　表 各種靶材適合的分析元素范圍

　　3.1.2 復合靶材：如Cr—Mo靶

　　低壓情況下，主要由CR靶產生特征X射線光譜，激發輕元素

　　高壓情況下，主要由MO靶產生連續譜，激發重元素

　　3.1.3 常用的不同靶材X光管適用的范圍：

　　3.1.4 X射線管的要求：

　　要求能夠連續地工作于較高的功率水平

　　提供較大的X射線能量

　　在保證X射線管使用壽命的情況下，窗用玻璃鈹片應盡可能的薄

　　靶材純度要高， 雜質譜線的強度應小于總強度的1%

　　X射線管的使用：

　　燈絲和靶極密封在抽成真空的金屬罩內

　　燈絲發射的電子經高壓加速撞擊在靶極上，產生一次X射線

　　只有當一次X射線的波長稍短于受激元素的吸收限波長時，才能有效地激發出X射線熒光

　　靶極和管工作電壓決定了一次X射線的強度

　　X射線管所消耗功率的0.2%轉變為X射線，其余均轉換為熱能，因此必須不斷通冷卻水冷卻靶電極(與激發源結構圖結合在一起理解)

　　3.1.5 XRF光譜儀的構造—濾波器

　　濾波器的作用

　　消除或降低來自X射線管發射的原級X射線譜，尤其是靶材的特征X射線對待測元素的干擾，可改善峰背比，提高分析的靈敏度。

　　濾波片的位置：

　　激發源與樣品之間(初級濾波片)

　　樣品與檢測器之間(次級濾波片)

　　濾波片的分類：

　　初級濾波片：置于X射線管與樣品之間，是為了得到單色性更好的輻射和降低分析元素譜感興趣區內的原級譜散射引起的背景。

　　次級濾波片：置于樣品與檢測器之間，主要用于非色譜儀，有得于對試樣中產生的多元素X射線熒光譜線進行能量選擇，提高待測元素的測量精度。

　　初級濾光片作用一：抑制Rh的譜線

　　作用二：降低背景

　　3.1.6 探測器的作用：

　　將X射線熒光光量子轉變成一定形狀和數量的電脈沖，表征X射線熒光的能量和強度。

　　常用探測器種類：

　　正比計數器(流氣式或封閉式，PC)

　　閃爍計數器(SD)

　　半導體計數器(SSD)

　　探測器特點：

　　1.在所測量的能量范圍內具有較高 的探測效率

　　2.具有良好的能量線性和能量分辨率

　　3.具有良好的高計數率，死時間較短

　　4.具有較高的信噪比，要求暗電流小，本底計數低

　　5.輸出信號便于處理，壽命長，使用方便，價格便宜

　　3.1.7 XRF光譜儀的構造—數據處理

　　數據系統的組成：

　　放大器，脈沖高度分析器，顯示系統

　　脈沖高度分析器：分離次級衍射線，雜質線，散射線

　　3.1.8 XRF光譜儀的構造(其它)

　　儀器結構：真空封擋

　　以上就是一六儀器整理分享的關于XRF光譜分析儀的構造及簡介，希望可以幫助到大家。想了解更多相關資訊，歡迎持續關注。