簡析光譜測厚儀概念及性能優勢
XTU系列光譜測厚儀，采用下照式C型腔體設計，不但可以測量各種微小樣品，即使大型超出樣品腔尺寸的工件也可測量，是一款測量涂鍍層成分及厚度性價比高、適用性強的機型.該系列儀器適用于平面、微小樣品或者微凹槽曲面深度30mm以內的樣品涂鍍層檢測。
光譜測厚儀概念：凡能使超聲波以一恒定速度在其內部傳播的各種材料均可采用此原理測量，如金屬類、塑料類、陶瓷類、玻璃類?？梢詫Ω鞣N板材和加工零件作準確測量，另一重要方面是可以對生產設備中各種管道和壓力容器進行監測，監測它們在使用過程中受腐蝕后的減薄程度。廣泛應用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個領域。
性能優勢：
下照式設計：可以快速方便地定位對焦樣品。
無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm。
微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。
率的jie shou qi ：即使測試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達到穩定性。
精密微型滑軌：快速精準定位樣品。
EFP先進算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。
熒光光譜測厚儀應用領域：
釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeAIB;
汽車、五金、電子產品等緊固件的表面處理檢測;
衛浴產品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZu(ABS)電鍍液的金屬陽離子檢測。
以上就是一六儀器整理分享的關于光譜測厚儀概念及性能優勢，相信大家也有了一定的了解。想了解更多相關資訊，歡迎持續關注。
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