隨著科技發展,很多行業的檢測需要,檢測儀器也越來越多,各自都有各自的優勢。我們對鍍層測厚應用正比接收器比半導體探測器更實用來一場簡單的辯論。接下來和鍍層測厚儀生產廠家一六儀器一起了解一下。
鍍層測厚儀應用正比接收器:
1.在X熒光儀器鍍層應用中,正比例接收器接收面積大,測試時間短、穩定性好;
2. 正比例接收器相對半導體探測器儀器射線管使用功率低,使用壽命更長;
3. 正比例接收器相比同等價位半導體探測器,能測好更小樣品;
4. 正比例接收器鍍層儀器,相比半導體探測器能測更高臺階的異型件;
5. X熒光儀器鍍層測厚做的好的廠家主要配置都搭載正比例接收器;
半導體探測器:
1. 半導體探測器分辨率更高,更好區分開相鄰元素的干擾;
2. 首飾貴金屬鍍層行業半導體探測器檢測的準確率更好;
3. 半導體探測器有效計數率更高,對于稍大的產品測試穩定性及準確性更高;
4. 半導體探測器檢出限更低,檢測超薄鍍層膜厚效果更好;
5. 半導體探測器儀器不僅能測鍍層,還能檢測合金成分、RoHS環保檢測,可以一機多用且精檢精測;
總結:鍍層測厚應用正比接收器與半導體探測器各有各的優勢,不能說哪個好,也不能說哪個不好。重要的是每個儀器都有自己最適合的檢測范圍,儀器可以滿足消費者需求的我姐的都是不錯的儀器。
以上就是一六整理分享的關于鍍層測厚應用正比接收器比半導體探測器更實用辯論。希望可以幫助大家根據產品優勢勾選到心儀的儀器。想了解更多相關資訊,歡迎持續關注。